|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Leakage current conduction behaviors of 0.65nm equivalent-oxide-thickness HfZrLaO gate dielectrics |
| Auteur: |
Lin, K.C. Chen, J.Y. Hsu, H.W. Chen, H.W. Liu, C.H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 77 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |