|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
On the efficiency of stress techniques in gate-last n-type bulk FinFETs |
| Auteur: |
Eneman, Geert Collaert, Nadine Veloso, Anabela De Keersgieter, An De Meyer, Kristin Hoffmann, Thomas Y. Horiguchi, Naoto Thean, Aaron |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 74 (2012) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |