|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental study of electron mobility characterization in direct contact La-silicate/Si structure based nMOSFETs |
| Auteur: |
Kawanago, T. Lee, Y. Kakushima, K. Ahmet, P. Tsutsui, K. Nishiyama, A. Sugii, N. Natori, K. Hattori, T. Iwai, H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 74 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |