|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved 1/f noise characterization of strained SiGe on insulator MOSFETs fabricated on wafers obtained by the Ge enrichment technique |
| Auteur: |
Valenza, M. El Husseini, J. Martinez, F. Bawedin, M. Le Royer, C. Damlencourt, J.F. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 70 (2012) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |