|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Analyzing the current crowding effect induced by oxygen adsorption of amorphous InGaZnO thin film transistor by capacitance–voltage measurements |
| Auteur: |
Huang, Sheng-Yao Chang, Ting-Chang Chen, Min-Chen Jian, Fu-Yen Chen, Shih-Cheng Chen, Te-Chih Jheng, Jing-Ling Lou, Mei-Jheng Yeh (Huang), Fon-Shan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 69 (2012) nr. C pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |