|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of a novel test system to characterize single-event effects at cryogenic temperatures |
| Auteur: |
Ramachandran, Vishwanath Gadlage, Matthew J. Ahlbin, Jonathan R. Narasimham, Balaji Alles, Michael L. Reed, Robert A. Bhuva, Bharat L. Massengill, Lloyd W. Black, Jeffrey D. Foster, Christopher N. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 54 (2010) nr. 10 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |