|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of in-plane and depth strain profiles in strained-Si substrates |
| Auteur: |
Ogura, Atsushi Kosemura, Daisuke Yamasaki, Kosuke Tanaka, Satoshi Kakemura, Yasuto Kitano, Akiko Hirosawa, Ichiro |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 51 (2007) nr. 2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |