|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
An electrostatic discharge failure mechanism in semiconductor devices, with applications to electrostatic discharge measurements using transmission line pulsing technique |
| Auteur: |
Lee, J.C Hoque, A Croft, G.D Liou, J.J Young, R Bernier, J.C |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 44 (2000) nr. 10 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |