|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Breakdown degradation associated with elementary screw dislocations in 4H-SiC p+n junction rectifiers |
| Auteur: |
Neudeck, P.G Huang, W Dudley, M |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 42 (1998) nr. 12 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |