|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the rate of change of inversion charge in thin insulator p-type Metal-Oxide-Semiconductor structures |
| Auteur: |
Xu, Mingzhen Tan, Changhua He, Yandong Wang, Yangyuan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 38 (1995) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |