|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytic approach to the a.c. conductance method for rapid characterization of interface states in MOS structures |
| Auteur: |
Yadava, R.D.S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 33 (1990) nr. 1 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |