|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of high temperature annealing on the spatial variation of bulk lifetime near the SiSiO2 interface |
| Auteur: |
Manchanda, L. Vasi, J. Bhattacharyya, A.B. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 23 (1980) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |