|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 4 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental investigation of time dependent dielectric breakdown and failure mechanism for Hf0.5Zr0.5O2 ferroelectric field effect transistors |
| Auteur: |
Cheng, Ran Li, Xinze Zeng, Yiqin Yu, Xiao Peng, Yue Chen, Bing Han, Genquan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 205 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 4 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |