|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of the switching layer on CBRAM reliability and benchmarking against OxRAM devices |
| Auteur: |
Belmonte, A. Reale, G. Fantini, A. Radhakrishnan, J. Redolfi, A. Devulder, W. Nyns, L. Kundu, S. Delhougne, R. Goux, L. Kar, G.S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 184 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |