|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate statistical extraction of AlGaN/GaN HEMT device parameters using the Y-function |
| Auteur: |
Kom Kammeugne, R. Leroux, C. Cluzel, J. Vauche, L. Le Royer, C. Krakovinsky, A. Gwoziecki, R. Biscarrat, J. Gaillard, F. Charles, M. Bano, E. Ghibaudo, G. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 184 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 21 gevonden artikelen
| volgende >> |