|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface admittance measurement and simulation of dual gated CVD WS2 MOSCAPs: Mapping the DIT(E) profile |
| Auteur: |
Mootheri, Vivek Wu, Xiangyu Cott, Daire Groven, Benjamin Heyns, Marc Asselberghs, Inge Radu, Iuliana Lin, Dennis |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 183 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |