Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
 
 
  Electron mobility of strained InGaAs long-channel MOSFETs: From scattering rates to TCAD model
 
 
Titel: Electron mobility of strained InGaAs long-channel MOSFETs: From scattering rates to TCAD model
Auteur: Carapezzi, Stefania
Reggiani, Susanna
Gnani, Elena
Gnudi, Antonio
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 172 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2020
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland