|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the anomalous hump phenomenon in amorphous InGaZnO thin-film transistors |
| Auteur: |
Teng, Tong Hu, Chun-Feng Qu, Xin-Ping Wang, Mingxiang |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 170 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |