|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of fluorine effects on charge-trap flash memory of W/TiN/Al2O3/Si3N4/SiO2/poly-Si gate stack |
| Auteur: |
Lee, Tae Yoon Lee, Seung Hwan Son, Jun Woo Lee, Sang Jae Bong, Jae Hoon Shin, Eui Joong Kim, Sung Ho Hwang, Wan Sik Moon, Jung Min Choi, Yang Kyu Cho, Byung Jin |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |