|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
A physical and versatile aging compact model for hot carrier degradation in SiGe HBTs under dynamic operating conditions |
| Auteur: |
Mukherjee, C. Marc, F. Couret, M. Fischer, G.G. Jaoul, M. Céli, D. Aufinger, K. Zimmer, T. Maneux, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 163 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |