|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Two-step degradation of a-InGaZnO thin film transistors under DC bias stress |
| Auteur: |
Hu, Chun-Feng Teng, Tong Qu, Xin-Ping |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 152 (2019) nr. C pagina's 4-10 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 16 gevonden artikelen
| << vorige |