|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Pulse duration effect during pulsed gate-bias stress in a-InGaZnO thin film transistors |
| Auteur: |
Kim, Woo-Sic Kang, Yun-Seong Cho, Yong-Jung Park, JeongKi Kim, GeonTae Kim, Ohyun |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 152 (2019) nr. C pagina's 53-57 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |