|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
The electron trap parameter extraction-based investigation of the relationship between charge trapping and activation energy in IGZO TFTs under positive bias temperature stress |
| Auteur: |
Rhee, Jihyun Choi, Sungju Kang, Hara Kim, Jae-Young Ko, Daehyun Ahn, Geumho Jung, Haesun Choi, Sung-Jin Myong Kim, Dong Kim, Dae Hwan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 140 (2018) nr. C pagina's 90-95 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |