|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Systematic analysis of oxide trap distribution of 4H-SiC DMOSFETs using TSCIS and its correlation with BTI and SILC behavior |
| Auteur: |
Baek, Sangwon Lee, Junyoung Park, Iksoo Baek, Rock-Hyun Lee, Jeong-Soo |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 140 (2018) nr. C pagina's 18-22 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |