|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
The defect-centric perspective of device and circuit reliability—From gate oxide defects to circuits |
| Auteur: |
Kaczer, B. Franco, J. Weckx, P. Roussel, Ph.J. Simicic, M. Putcha, V. Bury, E. Cho, M. Degraeve, R. Linten, D. Groeseneken, G. Debacker, P. Parvais, B. Raghavan, P. Catthoor, F. Rzepa, G. Waltl, M. Goes, W. Grasser, T. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 125 (2016) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |