|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of pattern dependency of SiGe layers grown selectively in source/drain on the performance of 14nm node FinFETs |
| Auteur: |
Qin, Changliang Wang, Guilei Kolahdouz, M. Luo, Jun Yin, Huaxing Yang, Ping Li, Junfeng Zhu, Huilong Chao, Zhao Ye, Tianchun Radamson, Henry H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 124 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |