|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Transport mechanisms of leakage current in Al2O3/InAlAs MOS capacitors |
| Auteur: |
Jin, Chengji Lu, Hongliang Zhang, Yimen Zhang, Yuming Guan, He Wu, Lifan Lu, Bin Liu, Chen |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 123 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |