|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
High-performance logic transistor DC benchmarking toward 7nm technology-node between III–V and Si tri-gate n-MOSFETs using virtual-source injection velocity model |
| Auteur: |
Baek, Rock-Hyun Kim, Jin Su Kim, Do-Kywn Kim, Taewoo Kim, Dae-Hyun |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 116 (2016) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |