|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Gamma and proton irradiation effects and thermal stability of electrical characteristics of metal-oxide-silicon capacitors with atomic layer deposited Al2O3 dielectric |
| Auteur: |
Rafí, J.M. Pellegrini, G. Fadeyev, V. Galloway, Z. Sadrozinski, H.F.-W. Christophersen, M. Phlips, B.F. Lynn, D. Kierstead, J. Hoeferkamp, M. Gorelov, I. Palni, P. Wang, R. Seidel, S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 116 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |