|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of bias conditions on electrical stress and ionizing radiation effects in Si-based TFETs |
| Auteur: |
Ding, Lili Gnani, Elena Gerardin, Simone Bagatin, Marta Driussi, Francesco Selmi, Luca Royer, Cyrille Le Paccagnella, Alessandro |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 115 (2016) nr. PB pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |