|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Bias temperature instability comparison of CMOS LTPS-TFTs with HfO2 gate dielectric |
| Auteur: |
Ma, William Cheng-Yu Huang, Chi-Yuan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 114 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |