|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on interface characteristics in amorphous indium–gallium–zinc oxide thin-film transistors by using low-frequency noise and temperature dependent mobility measurements |
| Auteur: |
Wu, Chenfei Huang, Xiaoming Lu, Hai Yu, Guang Ren, Fangfang Chen, Dunjun Zhang, Rong Zheng, Youdou |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 109 (2015) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |