|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparative mismatch study of the 20nm Gate-Last and 28nm Gate-First bulk CMOS technologies |
| Auteur: |
Rahhal, Lama Bajolet, Aurelie Manceau, Jean-Philippe Rosa, Julien Ricq, Stephane Lassere, Sebastien Ghibaudo, Gerard |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 108 (2015) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| volgende >> |