|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of stress-induced defects on MOS electrostatics and short-channel effects |
| Auteur: |
Esqueda, Ivan S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 103 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |