|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of 4H-SiC IGBT threshold characteristics due to SiC/SiO2 interface defects |
| Auteur: |
Pesic, Iliya Navarro, Dondee Miyake, Masataka Miura-Mattausch, Mitiko |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 101 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |