|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 94 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of the oxidation of thin porous silicon layers studied by reflectometry, spectroscopic ellipsometry and secondary ion mass spectroscopy |
| Auteur: |
Fried, M Polgár, O Lohner, T Strehlke, S Levy-Clement, C |
| Verschenen in: |
Journal of luminescence |
| Paginering: | Jaargang 80 (1998) nr. 1-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 94 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |