|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 73 van 137 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ stress measurements during MOCVD growth of AlGaN on SiC |
| Auteur: |
Acord, Jeremy D. Raghavan, Srinivasan Snyder, David W. Redwing, Joan M. |
| Verschenen in: |
Journal of crystal growth |
| Paginering: | Jaargang 272 (2004) nr. 1-4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 73 van 137 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |