|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness uniformity check of electropolymerized thin films by means of small area XPS |
| Auteur: |
Delamar, Michel Dubois, Jacques-Emile |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 184 (1985) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1985 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |