|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
An improved methodology for high-resolution LA-ICP-MS trace-element fingerprinting of tephra layers: Insights from the Upper and Lower Nariokotome Tuffs, Turkana Basin, Kenya |
| Auteur: |
Samim, Saini Dalton, Hayden Hergt, Janet Greig, Alan Phillips, David |
| Verschenen in: |
Chemical geology |
| Paginering: | Jaargang 660 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |