Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 10 gevonden artikelen
 
 
  A phase field model for failure in interconnect lines due to coupled diffusion mechanisms
 
 
Titel: A phase field model for failure in interconnect lines due to coupled diffusion mechanisms
Auteur: Bhate, Deepali N.
Bower, Allan F.
Kumar, Ashish
Verschenen in: Journal of the mechanics and physics of solids
Paginering: Jaargang 50 (2002) nr. 10 pagina's 27 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 10 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland