|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 86 van 92 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface-enhanced Raman spectroscopy as an in-situ real-time probe of no reduction over rhodium at high gas pressures |
| Auteur: |
Williams, Christopher T. Tolia, Anish A. Weaver, Michael J. Takoudis, Christos G. |
| Verschenen in: |
Chemical engineering science |
| Paginering: | Jaargang 51 (1996) nr. 10 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 86 van 92 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |