|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
A light reflectance technique for thickness measurements of passive films |
| Auteur: |
Büchler, M. Schmuki, P. Böhni, H. |
| Verschenen in: |
Electrochimica acta |
| Paginering: | Jaargang 43 (1998) nr. 5-6 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| volgende >> |