|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
On robust two-pattern testing of one-dimensional CMOS iterative logic arrays |
| Auteur: |
Gizopoulos, Dimitris Paschalis, Antonis Nikolos, Dimitris Halatsis, Constantine |
| Verschenen in: |
International journal of electronics |
| Paginering: | Jaargang 86 (1999) nr. 8 pagina's 967-978 |
| Jaar: |
1999-08-01 |
| Inhoud: |
In this paper a graph model and a method to construct robust (for the first time in open literature) as well as non-robust two-pattern tests for one-dimensional iterative logic arrays (ILAs) are presented. Exploring the graph structure we can find two-pattern tests that can be applied with a constant or linear number of test vectors to all the ILA cells. Such tests are subsequently characterized as robust or non-robust two-pattern tests. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |