|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Impacts of BeiDou stochastic model on reliability: overall test, w-test and minimal detectable bias |
| Auteur: |
Li, Bofeng Zhang, Lei Verhagen, Sandra |
| Verschenen in: |
GPS solutions |
| Paginering: | Jaargang 21 (2016) nr. 3 pagina's 1095-1112 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |