|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Atom probe tomography analysis of SiGe fins embedded in SiO2: Facts and artefacts |
| Auteur: |
Melkonyan, D. Fleischmann, C. Arnoldi, L. Demeulemeester, J. Kumar, A. Bogdanowicz, J. Vurpillot, F. Vandervorst, W. |
| Verschenen in: |
Ultramicroscopy |
| Paginering: | Jaargang 179 (2017) nr. C pagina's 100-107 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| volgende >> |