|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 292 van 3530 gevonden artikelen
| Titel: |
Auger-electron-photoion coincidence studies on ionic fragmentation following the Si 2p ionization of SiF4 |
| Auteur: |
Shigemasa, E. Hayaishi, T. Okuno, K. Danjo, A. Ueda, K. Sato, Y. Yagishita, A. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 79 (1996) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 292 van 3530 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |