|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 172 van 660 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of Si2p electron attenuation lengths in SiO2 |
| Auteur: |
Fulghum, Julia E. Stokell, Richard McGuire, Gary Patnaik, Bijoy Yu, Ning Zhao, Y.J. Parikh, Nalin |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 60 (1992) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 172 van 660 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |