|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 173 van 660 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the reduced thickness of surface layers by means of the substrate method |
| Auteur: |
Ebel, Maria F. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 22 (1981) nr. 2 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
1981 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 173 van 660 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |