|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 65 van 187 gevonden artikelen
| Titel: |
Erratum to “Infrared spectroscopy and X-ray diffraction studies on the crystallographic evolution of La2O3 films upon annealing” Microelectronic Engineering 85 (2008) 2411–2413 |
| Auteur: |
Tsoutsou, D. Scarel, G. Debernardi, A. Capelli, S.C. Volkos, S.N. Lamagna, L. Schamm, S. Coulon, P.E. Fanciulli, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 86 (2009) nr. 10 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 65 van 187 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |