|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Extending the relevant component analysis algorithm for metric learning using both positive and negative equivalence constraints |
| Auteur: |
Yeung, Dit-Yan Chang, Hong |
| Verschenen in: |
Pattern recognition |
| Paginering: | Jaargang 39 (2006) nr. 5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pattern Recognition Society |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |